中芯国际申请测试电路及测试方法发明专利

iDoNews
04-15

天眼查App显示,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司与中芯国际集成电路制造(上海)有限公司联合申请了一项名为“测试电路及测试方法”的发明专利,专利号为CN202311329505.8,预计于2025年4月15日公布。关键点:1. 专利内容:该专利涉及一种测试电路及方法,通过参考电路单元和待测电路单元获取充电电流值,能够精确测量寄生电容值。2. 申请时间:2023年10月13日提交申请。3. 公布...

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