北京建筑材料科学研究总院有限公司等测试块状样品微结构的方法和测试块状样品微结构的装置专利正式公布（测量测试专利快讯）

DoNews

2025/12/31

天眼查App显示，2025-12-30，“测试块状样品微结构的方法和测试块状样品微结构的装置”正式进入公布阶段。申请人为北京建筑材料科学研究总院有限公司,北京金隅集团股份有限公司，该项测量测试专利涉及材料微结构分层分析技术场景。据专利信息显示，通过纱网精细打磨结合XRD与IR协同测试，实现对块状样品微米级分层的晶体矿相与有机基团空间分布检测，技术效果数据提升达显著优化。发明人为章银祥;陈旭辉;高志...

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