異動解讀|Aehr Test Systems盤中下跌8.54%,半導體設備板塊全線走弱疊加前期暴漲後獲利回吐

行情直擊
07/17

7月17日,Aehr Test Systems盤中下跌8.54%,報85.625美元/股,成交額1.59億美元。

該股此前因Q4財報大幅超預期(調整後EPS 0.11美元遠超預期的-0.01美元)及單季訂單創歷史新高6070萬美元,兩個交易日內累計漲幅一度超50%。當日半導體設備板塊全線走弱,應用材料跌4.36%、阿斯麥跌2.36%、拉姆研究跌2.75%、科磊跌2.98%、泰瑞達跌1.91%,板塊系統性回調疊加前期暴漲後獲利回吐壓力,導致該股跌幅顯著放大。

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