異動解讀|Aehr Test Systems盤中下跌8.41%,半導體設備板塊集體回調疊加多筆內部人減持施壓

行情直擊
08/18

8月18日,Aehr Test Systems盤中下跌8.41%,報132.53美元/股,成交額9810.54萬美元。該股早盤一度衝高至146.6美元后大幅回落,日內振幅顯著。

消息面上,半導體設備板塊午後集體走弱,拉姆研究跌6.58%,AXT Inc跌6.06%,應用材料跌5.64%,阿斯麥跌4.48%,科磊跌4.05%,板塊共振放大個股跌幅。此外,公司近期披露的內部人交易顯示,多位董事及高管於8月12日至13日密集減持,其中董事Erickson Gayn合計賣出約3.85萬股,董事SCOTT GEOFFREY GATES賣出4萬股,總金額逾千萬美元,高管SALAMONE ALBERTO亦賣出近萬股。大規模內部人集中減持對短期市場情緒形成壓制。

(以上內容均基於市場公開消息,由程序或算法智能生成,僅作為股價異動提醒,不作為投資建議或交易依據。)

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