中芯國際申請測試電路及測試方法發明專利

iDoNews
04-15

天眼查App顯示,中芯國際集成電路製造(北京)有限公司與中芯國際集成電路製造(上海)有限公司聯合申請了一項名爲“測試電路及測試方法”的發明專利,專利號爲CN202311329505.8,預計於2025年4月15日公佈。關鍵點:1. 專利內容:該專利涉及一種測試電路及方法,通過參考電路單元和待測電路單元獲取充電電流值,能夠精確測量寄生電容值。2. 申請時間:2023年10月13日提交申請。3. 公佈...

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