台積電2nm工藝缺陷密度創新低,預計Q4按期量產

愛集微
04/28

台積電近期在北美技術研討會上公佈了其N2(2nm)工藝技術相對於同階段前代工藝的缺陷密度(D0)。據該公司稱,N2工藝的缺陷密度低於N3(3nm)、N5(5nm)和N7(7nm)製造節點。此外,幻燈片顯示,台積電N2工藝距離量產還有兩個季度,這意味着台積電有望按預期在2025年第四季度末開始生產2nm芯片。儘管台積電的N2工藝是該公司首個採用全柵環(GAA)納米片晶體管的工藝技術,但該節點的缺陷...

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