天眼查App顯示，2025年5月20日，「測試電路、測試方法以及芯片」正式進入專利的公布階段。申請人為中芯國際集成電路製造（北京）有限公司、中芯國際集成電路製造（上海）有限公司，該項集成電路測試專利涉及芯片靜電放電保護技術的應用場景。據專利信息顯示，該發明能夠顯著優化芯片靜電放電模塊的防護效果，提高測試結果的可靠性。發明人為郭俊男。專利摘要指出，一種測試電路、測試方法以及芯片，測試電路包括：被保護...
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