金融界2025年7月14日消息，國家知識產權局信息顯示，超威半導體公司申請一項名爲“用於將製造的錯誤注入到機器檢查架構中的設備、系統和方法”的專利，公開號CN120303648A，申請日期爲2023年12月。

專利摘要顯示，exemplary系統包括和/或表示代理和機器檢查架構。在一個示例中，機器檢查架構包括和/或表示被配置爲經由至少一個報告寄存器報告錯誤的至少一個電路。在該示例中，機器檢查架構還包括和/或表示至少一個錯誤注入寄存器，該至少一個錯誤注入寄存器被配置爲使電路響應於由代理對錯誤注入寄存器的至少一個位執行的寫入操作而將至少一個製造的錯誤報告注入到報告寄存器中。還公開了各種其他設備、系統和方法。