金融界2025年7月14日消息，國家知識產權局信息顯示，超威半導體公司申請一項名為「用於將製造的錯誤注入到機器檢查架構中的設備、系統和方法」的專利，公開號CN120303648A，申請日期為2023年12月。專利摘要顯示，exemplary系統包括和/或表示代理和機器檢查架構。在一個示例中，機器檢查架構包括和/或表示被配置為經由至少一個報告寄存器報告錯誤的至少一個電路。在該示例中，機器檢查架構還...
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