國家知識產權局信息顯示，禾納半導體（深圳）有限公司申請一項名為「MOS晶體管的封裝級測試方法及裝置」的專利，公開號CN120595072A，申請日期為2025年06月。

專利摘要顯示，本發明涉及MOS晶體管技術領域，公開了一種MOS晶體管的封裝級測試方法及裝置。該方法：對封裝MOS晶體管施加多頻率脈衝信號，得到不同頻率下的MOS晶體管響應數據；對所述MOS晶體管響應數據進行參數同步採集，得到原始測試數據；對所述原始測試數據執行封裝寄生效應補償處理，得到校正測試數據；對所述校正測試數據進行信號特徵分解，得到MOS晶體管的特徵參數集；基於所述特徵參數集進行封裝缺陷分析，得到缺陷識別報告。

天眼查資料顯示，禾納半導體（深圳）有限公司，成立於2018年，位於深圳市，是一家以從事房地產業為主的企業。企業註冊資本1000萬人民幣。通過天眼查大數據分析，禾納半導體（深圳）有限公司參與招投標項目1次，財產線索方面有商標信息14條，專利信息12條，此外企業還擁有行政許可9個。

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