天眼查App顯示,2025-12-30,「測試塊狀樣品微結構的方法和測試塊狀樣品微結構的裝置」正式進入公布階段。申請人為北京建築材料科學研究總院有限公司,北京金隅集團股份有限公司,該項測量測試專利涉及材料微結構分層分析技術場景。據專利信息顯示,通過紗網精細打磨結合XRD與IR協同測試,實現對塊狀樣品微米級分層的晶體礦相與有機基團空間分佈檢測,技術效果數據提升達顯著優化。發明人為章銀祥;陳旭輝;高志...
網頁鏈接天眼查App顯示,2025-12-30,「測試塊狀樣品微結構的方法和測試塊狀樣品微結構的裝置」正式進入公布階段。申請人為北京建築材料科學研究總院有限公司,北京金隅集團股份有限公司,該項測量測試專利涉及材料微結構分層分析技術場景。據專利信息顯示,通過紗網精細打磨結合XRD與IR協同測試,實現對塊狀樣品微米級分層的晶體礦相與有機基團空間分佈檢測,技術效果數據提升達顯著優化。發明人為章銀祥;陳旭輝;高志...
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